Estudio de la estructura del SiC (II)

Tras el paso por el Dimpler, nuestra muestra acaba con un espesor, en la zona central, de apenas 0.02mm
Para hacer microscopía de transmisión, necesitaremos hacer un pequeño agujero a la muestra (por cuyo borde, más fino, pueden pasar los electrones, y así estudiar la estructura interna). Para hacer este agujero sin romper la muestra usaremos un adelgazador iónico como los de la figura.

La muestra así preparada se observa en un microscopio de transmisión. En la imagen, el microscopio electrónico Phillips CM200, y una imagen obtenida durante la observación (intentaré subir imágenes de mayor calidad).
Nota: la muestra observada no corresponde a la de SiC (es la muestra de otra persona).

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